Definitivamente se utilizan en la industria.
Solo por un ejemplo del cual estoy personalmente al tanto, las compañías de fabricación de semiconductores realizan análisis de fallas de manera rutinaria en las partes que han fabricado que fallaron. Entre muchas otras posibilidades, esto puede involucrar un STEM en (por ejemplo) una sección transversal del chip.
Para ser justos, debo agregar que al menos desde hace unos años, cuando estaba más involucrado con esto, otras técnicas de imagen como SEM eran más comunes que STEM. STEM generalmente estaba reservado para situaciones en las que realmente necesitaba su mayor resolución / menor ruido.
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También debo agregar que no he tenido mucho que ver con el análisis de fallas en los últimos años, así que estoy un poco fuera de contacto con él. Dados los tamaños cada vez más reducidos en los semiconductores, no me sorprendería especialmente si el uso de STEM se ha vuelto más común recientemente (pero no estoy seguro de que lo haya hecho, y tal vez algo más se haya puesto en uso).
