Pueden ver el espacio entre los átomos. He trabajado con microscopios de fuerza atómica (AFM), microscopios de túnel de escaneo (STM) y microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Todos estos, aunque indirectamente, medirán con precisión la distancia entre los átomos.
AFM y STM están estrechamente relacionados y usan una aguja de escaneo muy cerca de una superficie como un tocadiscos. El AFM utiliza las fuerzas de vanDerWalls para mantener una distancia constante de la superficie. El STM utiliza el efecto de túnel de electrones para mantener el mismo voltaje y, por lo tanto, la distancia desde la superficie. El desplazamiento vertical se mide indirectamente a través de un circuito de retroalimentación.
TEM utiliza electrones de alta energía acelerados a través de una muestra muy delgada. Se puede ver el patrón de difracción de un material cristalino y, por lo tanto, el espaciado atómico. Por lo general, debe realizar algún tipo de análisis de Fourier para extraer una distancia real y luego correlacionarla con el material y su estructura cristalina.
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