El área integrada bajo una curva XRD en polvo * es proporcional a la intensidad difractada total.
Para un material cristalino, la intensidad de cada pico está relacionada con el factor de estructura para ese pico. Esta es una función de los factores de dispersión atómica , la disposición de los átomos dentro de la estructura cristalina y el número de picos relacionados por simetría (el factor de multiplicidad ). Más detalles se dan aquí:
Relación entre estructura cristalina y datos de rayos X
(Tenga en cuenta que estos cálculos dan el área del pico, no la altura del pico. Varios efectos, incluidos los pequeños cristalitos, pueden causar la ampliación de los picos, reduciendo su altura pero manteniendo su área).
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Para una muestra semicristalina, por ejemplo, muchos polímeros, la proporción del área bajo picos cristalinos al área bajo la banda ancha amorfa es una medida del grado de cristalinidad:
Fuente de imagen.
* Estrictamente hablando, esta respuesta solo es válida cuando el eje x del gráfico es la magnitud del vector de dispersión, [matemática] q = \ frac {4 \ pi \ sin {\ theta}} {\ lambda} [/ matemática] , en lugar de [matemáticas] 2 \ theta [/ matemáticas]. Para muchas aplicaciones prácticas, la diferencia no es terriblemente significativa.
Gracias por el A2A. En el futuro, considere si realmente necesita ser anónimo para hacer este tipo de preguntas objetivas.
