El quemado de evento único es causado por partículas de alta energía que pasan a través de una unión pn con polarización inversa de un dispositivo semiconductor. En un evento SEB, la partícula provoca un rastro de avalancha a su paso. Si este evento causa daño depende de la energía de la partícula, la tecnología de semiconductores del dispositivo, el tipo y diseño físico del dispositivo, y la tensión de voltaje alrededor de la unión de semiconductores. La tensión de tensión es la relación entre la tensión aplicada y la tensión de ruptura. Http://powerelectronics.com/discrete-power-semis/reduce-circuit-zapping-cosmic-radiation
Usando los términos de búsqueda: fallas de semiconductores, los rayos cósmicos dan como resultado una gran colección de artículos sobre el efecto de los rayos cósmicos en los circuitos de semiconductores de alto voltaje.
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